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Microscope métallurgique inversé inversé Kason 102-AW
1 et 1Application
Le Microscope métallographique informatisé est un microscope métallographique inversé trinoculaire, qui est utilisé pour identifier et analyser la structure combinée de divers métaux et matériaux en alliage. Il est largement utilisé dans les usines ou les laboratoires pour identifier la qualité des pièces moulées, inspecter les matières premières ou inspecter les matériaux après le traitement. Analyse de la structure métallographique, ainsi que des recherches sur certains phénomènes de surface tels que la pulvérisation de surface; Analyse métallographique de l'acier, des matériaux métalliques non ferreux, des pièces moulées, des revêtements, de l'analyse pétrographique de la géologie et de la recherche microscopique sur les composés, la céramique, etc. dans le domaine industriel des moyens efficaces.
Mécanisme de mise au point Il adopte un mécanisme de focalisation coaxial à la main inférieure et à réglage fin, qui peut être ajusté sur les côtés gauche et droit. La précision de l'ajustement fin est élevée et le réglage manuel est simple et pratique. Les utilisateurs peuvent facilement obtenir des images claires et confortables. La course de réglage grossière est de 38 mm et la précision de réglage fin est de 0,002 mm. | |
Plate-forme mobile mécanique Il adopte une plate-forme de grande taille de 180 × 155 mm et est placée en position de droite, ce qui est conforme aux habitudes de fonctionnement des gens ordinaires. Pendant le fonctionnement de l'utilisateur, il est pratique de basculer entre le mécanisme de mise au point et le mouvement de la plate-forme, offrant aux utilisateurs un environnement de travail plus efficace. | |
Système d'éclairage Le système d'éclairage kolaire épi-illumination a un diaphragme d'ouverture variable et un diaphragme de champ réglable central, en utilisant une large tension adaptative 100V-240V, une luminosité élevée 5W, un éclairage LED ou une lampe halogène 6V30. |
2Spécifications principales
Configuration standard | Modèle | |
Article | Spécification | Kason102-aw |
Système optique | Système optique d'aberration chromatique fini | Compris |
Tube d'observation | 45 ° Inclinaison, tube d'observation trinoculaire, plage de réglage de la distance interpupillaire: 54-75 mm, rapport divisé: 80:20 | Compris |
Oculaire | Point de vue élevé et grand champ de vue plan oculaire PL10X / 18 mm | Compris |
Lentilles objectives (lentille objectif achromatique du plan longue distance) | LMPL5X / 0.13WD15.5 mm | Compris |
LMPL10X / 0.25WD8.7 mm | Compris | |
Lmp20x / 0.40wd8.8 mm | Compris | |
LMPL50X / 0,60WD5.1 mm | Compris | |
Convertisseur | Convertisseur à quatre trous positionné en interne | Compris |
Mécanisme de mise au point | Mécanisme de focalisation coaxial à faible position de la main et ajustement fin, course de mouvement grossier par révolution 38 mm; précision de réglage fin 0,002 mm | Compris |
Scène | Plate-forme mobile mécanique à trois couches, zone 180 mmx155 mm, contrôlée par la main inférieure de la main droite, course: 75 mm × 40 mm | Compris |
Travailsurface | Plaque d'étape métallique (trou central φ12 mm) | Compris |
Système d'éclairage | Epi-illuminated Kolar lighting system, with variable aperture diaphragm and center-adjustable field diaphragm, adaptive wide voltage 100V-240V, single 5W warm LED light (color temperature 2850K-3250K), continuously adjustable light intensity | Compris |
Système d'analyse métallographique | FMIA2023 Logiciel d'analyse métallographique authentique, appareil de caméra Sony Chip 5 millions, interface miroir adaptateur 0,5x, micromètre. | Compris |
Configuration facultative | ||
Article | Spécification | |
Oculaire | Point d'oeil élevé, grand champ de vue plan Plan, l'oculaire PL10X / 18 mm, peut être équipé d'un micromètre | O |
Point d'œil élevé, champ de vue large sur le champ de vue WF15X / 13 mm, peut être équipé d'un micromètre | O | |
Point de vue élevé et large champ de vue oculaire WF20x / 10 mm, | O | |
Objectiflentille | LMPL100X / 0,802,00 mm | O |
Convertisseur | Convertisseur à cinq trous positionné en interne | O |
Système d'éclairage | Système d'éclairage kolaire épi-illumination, avec diaphragme d'ouverture variable et diaphragme de champ réglable au centre, lampe halogène à large tension adaptative 100V-240V, 6v30W, intensité de lumière réglable en continu réglable | O |
Accessoires polarisants | Plaque d'insertion de polariseur, plaque d'insertion d'analyseur fixe, plaque d'insertion de l'analyseur rotatif à 360 ° | O |
Caméraappareil | Appareil de caméra à puce Sony de 12 mégapixels | O |
Ordinateur | HP Business Jet | O |
2Système logiciel d'analyse d'images métallographiques
Le système de logiciels d'analyse d'images métallographiques est conçu par notre entreprise pour améliorer le taux de qualification des produits en combinant les besoins actuels des sociétés de fonderie, des sociétés de pièces automobiles, des sociétés de traitement de la chaleur, des industries en acier, des industries du système électrique, des industries de pièces ferroviaires et des sociétés de Test connexes pour les tests métallographiques. , pour aider à améliorer le niveau d'inspection de divers laboratoires, nous avons collecté les besoins et les opinions des experts et des enseignants de diverses industries pour développer cet ensemble de logiciels de logiciels d'analyse métallographique de la version FMIA2023.
La bibliothèque nationale standard du système logiciel contient environ 700 sous-modules couramment utilisés dans 150 catégories, couvrant essentiellement des normes métallographiques couramment utilisées et l'adaptation aux exigences d'analyse et d'inspection métallographiques de la plupart des unités. Désigner et ouvrir les catégories pertinentes en fonction des besoins de différentes industries pour répondre aux exigences de test de l'industrie. Tous les modules peuvent être appelés gratuitement à vie et les normes peuvent être améliorées gratuitement à vie.
Compte tenu de l'augmentation continue des nouveaux matériaux et des matériaux de qualité importés, des matériaux et des normes d'évaluation qui n'ont pas encore été entrés dans le logiciel peuvent être personnalisés et entrés.
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